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  1. 產品詳情
    • 產品名稱:溫度沖擊快速溫變試驗箱

    • 產品型號:SER
    • 產品廠商:賽思
    • 產品文檔:
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    簡單介紹:
    溫度沖擊快速溫變試驗箱對不同電子構件,在實際使用環境中遭遇的溫度條件,改變環境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴格測試環境,縮短測試時間,降低測試費用,但是必須要注意可能對材料測試造成額外的影響,產生非使用狀態的破壞試驗。(需把握在失敗機制依然未受影響的條件下)RAMP試驗條件標示為:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是溫度循環(可控制斜率的溫度沖擊)。
    詳情介紹:

    溫度沖擊快速溫變試驗箱 特 點:

    1、可執行AMP(等均溫變)、三箱沖擊(TC)、兩箱沖擊(TS)、高溫儲存、低溫儲存功能;

    2、等均溫速率賽思可設定范圍5℃~30/min(40/min);

    3、滿足無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求;

    4、賽思采用美國Sporlan公司新型PWM冷控制技術實現低溫節能運行;

    5、除霜周期三天除霜一次,每次只需1小時完成;

    6、通信配置RS232接口和USB儲存曲線下載功能;

    7、感測器放置測試區出(回)風口賽思設計符合實驗有效性;

    8、機臺多處報警監測,配置無線遠程報警功能;

    溫度沖擊快速溫變試驗箱 節能控制方式:

    制冷壓縮機啟??刂茰囟龋囟炔▌哟?、嚴重影響壓縮機壽命,已淘汰的技術)制冷壓縮機恒定運行+加熱PID控制(導致制冷量與加熱相抵消實現溫度動態平衡,浪費了大量的電能)新型PWM冷控制技術賽思實現低溫節能運行:低溫工作狀態,加熱器不參與工作,通過PWM技術控制調節制冷機組制冷劑流量和流向,對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調節,實現對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下,可實現降低40%的能耗。 

    溫度沖擊快速溫變試驗箱 標準: 

    無鉛制程、無鉛焊錫、錫須(晶須)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等試驗要求。

    產品&規范

    廠商名稱

    高溫

    低溫

    溫變率

    循環數

    循環時間

    備注

    MIL-STD-2164、GJB-1032-90
    電子產品應力篩選

    ——

    工作極限溫度

    工作極限溫度

    5/min

    1012

    3h20min

    ——

    MIL-344A-4-16
    電子設備環境應力篩選

    設備或系統

    71

    -54

    5/min

    10

    ——

    ——

    MIL-2164A-19
    電子設備環境應力篩選方法

    ——

    工作極限溫度

    工作極限溫度

    10/min

    10

    ——

    駐留時間為內部達到指定溫度10℃時

    NABMAT-9492
    美軍海軍制造篩選

    設備或系統

    55

    -53

    15/min

    10

    ——

    駐留時間為內部達到指定溫度5℃時

    GJB/Z34-5.1.6
    電子產品定量環境應力篩選指南

    組件

    85

    -55

    15/min

    25

    ——

    達到溫度穩定的時間

    GJB/Z34-5.1.6
    電子產品定量環境應力篩選指南

    設備或系統

    70

    -55

    5/min

    10

    ——

    達到溫度穩定的時間

    筆記本電腦

    主板廠商

    85

    -40

    15/min

    ——

    ——

    ——


    TSR(斜率可控制)[5℃~30 /min]

    30/min

    電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環 MOTOROLA壓力傳感器溫度循環試驗

    28/min

    LED汽車照明燈

    25/min

    PCB的產品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應

    24/min

    光纖連接頭

    20/min

    IPC9701 、覆晶技術的極端溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統&端子、改進導通孔系統信號 比較IC包裝的熱量循環和SnPb焊接、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命

     

    17/min

    MOTO

    15/min

    IEC 6074925、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業及交通工具、 汽車引擎蓋下環境)

    11/min

    無鉛CSP產品溫度循環測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

    10/min

    通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環測試

    5/min

     

    錫須溫度循環試驗

    溫度沖擊快速溫變試驗箱 技術規格:

    型號

    SER-A

    SER-B

    SER-C

    SER-D

    內箱尺寸
    W x D x H cm

    40×35×35

    50×50×40

    60×50×50

    70×60×60

    外箱尺寸
    W x D x H cm

    140×165×165

    150×200×175

    160×225×185

    170×260×193

    溫度范圍

    -80.00℃~+200.00

    低溫沖擊范圍

    -10.00℃~-40//-55//-65.00

    高溫沖擊范圍

    +60.00℃~+150.00

    時間設定范圍

    0 hour 1 min 9999 hour 59 min/segment

    溫度波動度

    1℃(≤±0.5℃,按GB/T5170-1996表示)

    溫度偏差

    ≤±2℃(-65℃~+150℃)

    溫度均勻度

    2.00℃以內

    溫變速率(斜率)

    +5℃~+30/min(+40)

    溫變范圍

    -55℃~+85//+125

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